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| 研究生： |
林仁旭 Jen-hsu Lin |
|---|---|
| 論文名稱： |
以均勻度係數為預測晶圓良率指標之可行性分析-以國內某DRAM廠為例 Using Uniformity to Predict Wafer Yield - A Feasibility Study of a DRAM Foundry |
| 指導教授： |
范錚強
Cheng-Kiang Farn |
| 口試委員: | |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
管理學院 - 資訊管理學系在職專班 Executive Master of Information Management |
| 畢業學年度： | 96 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 54 |
| 相關次數： | 點閱：10 下載：0 |
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