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| 研究生： |
楊沛雯 Pei-Wen Yang |
|---|---|
| 論文名稱： |
YMK-FDC：基於對比學習與知識蒸餾之X-Ray晶片瑕疵檢測 YMK-FDC: X-Ray Chip Defect Detection based on Contrastive Learning and Knowledge Distillation |
| 指導教授： |
陳以錚
Chen, Yi-Cheng 葉羅堯 Lo-Yao Yeh |
| 口試委員: | |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
管理學院 - 資訊管理學系在職專班 Executive Master of Information Management |
| 論文出版年： | 2025 |
| 畢業學年度： | 113 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 59 |
| 相關次數： | 點閱：40 下載：0 |
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全文公開日期 2030/07/01全文公開日期 2030/07/01 (校外網路)