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研究生： 姜曉玲
Xiao-Ling Jiang
論文名稱： 逐步應力加速衰變試驗壽命推估之模擬研究
指導教授： 呂理裕
Lii-Yuh Leu
口試委員:
學位類別： 碩士
Master
系所名稱： 理學院 - 統計研究所
Graduate Institute of Statistics
畢業學年度： 89
語文別： 中文
論文頁數： 56
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    • 高可靠度產品壽命的評估，而Tseng＆Wen (2000)所提出的逐步應力
    加速衰變試驗(SSADT)較ALT 及ADT 更能有效縮減試驗時間及試驗的
    成本。而在Tseng＆Wen (2000)中假設產品品質特性值的誤差項為相
    互獨立的常態分配，這與實際的情況並不符合；於是吳明霞(2000)
    的文章假設產品的品質特性值是以Wiener 過程進行且利用此模型下
    所對應的產品壽命為一轉換型逆高斯分配來探討產品的壽命。
    本篇文章將在二種不同衰變模式假設下，一為一般常使用的在Si應力
    水準下，考慮產品的衰變路徑為L(t| Si)=exp{-βi tα}；另一個則是
    考慮產品的衰變路徑為L(t| Si)=exp{-(α+βi t)}，分別進行逐步應
    力加速衰變試驗。而在進行逐步應力加速衰變試驗時，分別用二種方
    法處理，一為假設產品品質特性值的誤差項為相互獨立的常態分布；
    二為假設產品品質特性值是Wiener 過程。且在相同的衰變模式與試
    驗條件下分別用兩種方法進行試驗，並比較其結果。目的在幫助我們
    了解在不同的衰變模式下進行逐步應力加速衰變試驗，其在二種不同
    的產品品質特性值假設下，所得到的結果是否有差異。

    第一章 前言 1.1 研究動機及目的 … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … …. . 1 1.2 文獻探討 … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … …. . 3 1.3 研究結構 … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … …. . 4 第二章 逐步應力加速衰變模型之介紹 2.1 SSADT 模型的應力安排 … … … … … … … … … … … … … … … … … … … ….. 6 2.2 SSADT 模型的簡介 … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … ….. 6 第三章 逐步應力加速衰變模型在衰變模型為L(t| Si)=exp{-βi tα} 假設下之壽命推估程序 3.1 產品品質特性值誤差項為常態分布之壽命推估程序 … … … … … … … ….. 8 3.2 產品品質特性值為Wiener 過程之壽命推估程序 … … … … … … … … ….. 16 3.3 兩種壽命推估程序結果之比較 . … … … … … … … … … … … … … … … … .. 29 第四章 逐步應力加速衰變模型在衰變模型為L(t| Si)=exp{-(α+βi t)} 假設下之壽命推估程序 4.1 產品品質特性值誤差項為常態分布之壽命推估程序 . … … … … … … ….. 31 4.2 產品品質特性值為Wiener 過程之壽命推估程序 … … … … … … … … ….. 39 4.3 兩種壽命推估程序結果之比較 . … … … … … … … … … … … … … … … …. . 50 第五章 二種衰變模型模擬結果之比較 … … … … … … … … … … … …... 52 第六章 結論 … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … …. 54 參考文獻 .… … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … …... 56

    【1】Boulanger,Michele and Escobar,Luis A., “Experimental Design for a
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    Termination Time for an Accelerated Degradation Experiment”,
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    【10】吳明霞, 高可靠度產品之逐步應力加速衰變試驗(Based on Wiener
    Process), 清華大學碩士論文 (2000).

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