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研究生: 劉旻忠
Ming-Chou Liu
論文名稱: 射頻濺鍍紫外光氧化薄膜之研究
指導教授: 李正中
Cheng-Chung Lee
口試委員:
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 理學院 - 光電科學與工程學系
Department of Optics and Photonics
畢業學年度: 88
語文別: 中文
論文頁數: 74
中文關鍵詞: 射頻濺鍍紫外光氧化薄膜氧化鋁二氧化矽
外文關鍵詞: Rf-sputtering, UV-coating, Al2o3, Sio2
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  • 本論文是使用多靶式磁控射頻濺鍍系統,濺鍍光學薄膜,著眼於Al2O3和SiO2兩種材料的濺鍍,主要探討不同真空度下波長在300nm∼400nm紫外光區其穿透率、折射率和消光係數等光學性質,另外對力學特性如薄膜應力、表面微觀結構如表面粗糙度等,以及薄膜的結晶性作研究和討論,並利用此兩種材料作光學薄膜的疊加設計與應用。希望能在紫外光區波長300nm~400nm 中製造出好的氧化薄膜,以便提供衛星遙測於紫外光區的光學技術應用。


    目錄 中文摘要 Ⅰ 誌謝辭Ⅱ 目錄Ⅲ 圖目錄Ⅴ 表目錄Ⅷ 符號說明Ⅸ 第一章緒論 1-1前言 1 1-2 Al2O3和SiO2材料特性4 第二章原理 2-1電漿原理5 2-2濺鍍原理 2-2-1直流濺鍍 8 2-2-2射頻濺鍍8 2-2-3磁空濺鍍12 2-3平均自由路徑14 2-4電場的效應15 2-5薄膜應力16 2-5-1 應力的種類 16 第三章量測儀器 3-1 量測儀器19 3-2 量測儀器的原理和架構 3-2-1橢圓偏光儀的原理和架構20 3-2-1-1橢圓偏光儀原理 20 3-2-1-2橢圓偏光儀的架構24 3-2-1-3橢圓偏光儀的示意圖24 3-2-2干涉相移式薄膜應力量測儀原理和架構25 3-2-2-1薄膜應力量測技術25 3-2-2-2干涉相移式薄膜應力量測儀原理25 3-2-2-3干涉相移式薄膜應力量測儀架構26 3-2-3原子力顯微鏡的原理和架構29 3-2-3-1原子力顯微鏡原理29 3-2-3-2原子力顯微鏡架構31 第四章實驗目的架構與程序 4-1 實驗目的32 4-2 濺鍍系統的架構32 4-3 控制參數34 4-4 基板的準備34 第五章實驗結果與討論 5-1 Al2O3薄膜實驗結果與討論35 5-1-1 濺鍍速率 35 5-1-2 折射率和消光係數36 5-1-3 穿透光譜38 5-1-4 薄膜應力的量測41 5-1-5 表面粗糙度42 5-1-6 結晶性的量測46 5-1-7 實驗討論47 5-2 SiO2薄膜的實驗結果與討論49 5-2-1 濺鍍速率49 5-2-2 折射率和消光係數50 5-2-3 穿透光譜52 5-2-4 表面粗糙度53 5-2-5 結晶性的量測58 5-2-7 實驗討論59 5-3 抗反射膜之疊加製鍍 5-3-1 四層1/4波膜堆疊加之抗反射膜61 5-3-2 四層1/4波膜堆兩面之抗反射膜62 5-3-3 Al膜上再疊加十層1/4波膜堆之高反射鏡63 5-3-4 實驗討論 64 第六章薄膜的應用討論 6-1 四層膜之抗反射65 6-2 高反射鏡68 6-2-1使用四分之一波膜堆68 6-2-2金屬膜加介電質膜70 第七章結論72 參考文獻 73

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