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| 研究生： |
陳睦璿 Mu-Hsuan Chen |
|---|---|
| 論文名稱： |
多重失效模式微電子資料之可靠度分析 Reliability Analysis for Microelectronics Data with Multiple Failure Modes |
| 指導教授： |
樊采虹
Tsai-Hung Fan |
| 口試委員: | |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
理學院 - 統計研究所 Graduate Institute of Statistics |
| 論文出版年： | 2023 |
| 畢業學年度： | 111 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 74 |
| 相關次數： | 點閱：13 下載：0 |
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全文公開日期 2026/06/14全文公開日期 2026/06/14 (校外網路)