| 研究生: |
林駿鴻 Chun-hung Lin |
|---|---|
| 論文名稱: |
應用邏輯迴歸模型分析晶圓測試廠測試報表錯誤的關鍵因子-以A公司為例 Applying Logistic Regression Models to Analyze Key Factors of Causing Wafer Map Error in a Testing House-A Case Study of Company A. |
| 指導教授: |
葉英傑
業應節 |
| 口試委員: | |
| 學位類別: |
碩士 Master |
| 系所名稱: |
管理學院 - 工業管理研究所在職專班 Executive Master of Industrial Management |
| 論文出版年: | 2025 |
| 畢業學年度: | 113 |
| 語文別: | 中文 |
| 論文頁數: | 49 |
| 相關次數: | 點閱:93 下載:0 |
| 分享至: |
| 查詢本校圖書館目錄 查詢臺灣博碩士論文知識加值系統 勘誤回報 |
全文公開日期 本全文未授權公開