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| 研究生： |
余季欣 Ji-shin Yu |
|---|---|
| 論文名稱： |
以量測反射係術探測光學薄膜之特性 Optical thin film characterization via the measurement of reflection coefficient |
| 指導教授： |
李正中
Chung-cheng Lee |
| 口試委員: | |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
理學院 - 光電科學與工程學系 Department of Optics and Photonics |
| 論文出版年： | 2014 |
| 畢業學年度： | 102 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 58 |
| 相關次數： | 點閱：9 下載：0 |
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