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研究生: 翁世勇
Shih-Yung Weng
論文名稱: 關於 (2,n) 群試問題的研究
The Research of Group Testing Questions in (2,n)
指導教授: 呂明光
Ming-Guang Leu
口試委員:
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 理學院 - 數學系
Department of Mathematics
畢業學年度: 88
語文別: 中文
論文頁數: 35
中文關鍵詞: 群試演算法 w不良品
外文關鍵詞: Group Testing, Algorithm -w, Defective
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  • Chang, Hwang 及 Weng [1] , ...等諸位先生在 1989 年時建構了一種特別的演算法 c ,將它應用在解決形如 (2,c_t) 這一類型的問題時,
    可以得到在 c_t 數量的樣本中,找出 2 個不良品的步驟不會超過 t 次.也就是說:用來解決 (2,n_t) 這一類型的問題的最佳方法,其所能處理的樣本數量至少大於或等於 c_t ,亦即: c_t 是處理形如 (2,n_t) 這一類型的問題時其樣本數量的下界.因為由黃光明,張鎮華,...等諸位先生所做的研究結果中已知, c_t 是處理形如 (2,n_t) 這一類型的問題時,其樣本數量的下界,但是,在 c_t 與 n_t 之間仍然有相當大的落差存在(因為 c_t/n_t}>0.983).
    所以, (2,n) 這一類型的問題,可能有一個更好的方法可以用來處理比 c_t 更多的樣本數量.於是,我們可以合理的猜測:是否樣本數量提升到 w_t 時,也可以仿照黃光明,張鎮華, ...等諸位先生所使用的方法,來處理形如 (2,w_t) 這一類型的問題.本篇論文研究的目的就在仿照 Chang, Hwang 及 Weng [1] 的方法之下,我們可以得到更好的結果(w_t/n_t>0.990).


    論文提要 誌謝辭 1.緒論 2.基本定義與一些必須使用的引理 3.定理 1.3 的證明 參考書目

    [1] X. M. Chang, F. K. Hwang and J. F. Weng, Group testing with two and three defectives,in Graph Theory and Its Applications: East and West, ed. M. F. Capobiano, M. Guan, D. f. Hsu and T. Tian, (The New York Academy of Sciences, New York,1989) 86-96.
    [2] D. Z. Du and F. K. Hwang , Combinatorial Group Testing and Its Applications (World Scientific, Singapore,1993).

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