摘要
本論文是以有機胺當作模板利用中溫水熱反應合成了四個草酸-磷酸鎵。如下所列：
(C4H14N2)2[Ga4(C2O4)(H2PO4)2(PO4)4]．4H2O (1)
(C7H20N2)[Ga6(C2O4)(PO4)6] (2)
(C8H26N4)0.25[Ga4(C2O4)(HPO4)2(H2PO4)(PO4)2]．3H2O (3)
(C8H22N2)[Ga4(C2O4)0.5(PO4)4(H2O)] (4)
化合物1為二維層狀結構化合物，由兩種無限延伸鏈以交互配位的方式連接而成，藉由PO4四面體連接鏈與鏈形成層狀結構，有機胺及水分子座落於層與層之間。化合物2為三維孔洞結構化合物，具有多方向的孔洞形式，由兩種無限延伸鏈藉由PO4四面體連接形成單一層，層與層之間再透過PO4四面體連接形成孔洞狀結構。化合物3為三維孔洞結構化合物，由GaO6八面體利用草酸根與鄰近的GaO6八面體相互連接，再與GaO4四面體及PO4四面體以角共用方式連接，並透過H2PO4四面體連接進而延展成孔洞狀結構；沿c軸方向可發現十六員環及八員環的孔洞，有機胺、水分子分別座落於八員環及十六員環孔洞中。化合物4為三維孔洞結構化合物，其中鎵原子有四、五及六配位，在bc平面上有兩種不同組成的層狀結構A與B，層與層藉由PO4四面體以共角方式交互連結，形成三維孔洞結構。而沿c軸方向可發現十員環孔洞，有機胺則座落於孔洞中。
以上所列的化合物均由單晶X-光繞射分析鑑定出結構；由粉末X-光繞射分析證實產物純度；利用元素分析可以確定化合物中C、N、H等元素的比例；熱重量分析研究化合物的熱性質。

參考文獻
1. Harrison, W. T. A.; Gier, T. E.; Moran, K. L.; Nicol, J. M.; Eckert, H.; Stucky, G. D. Chem. Mater. 1991, 3, 27
2. Huo,Q.; Xu, R.; Li, S.; MA, Z.; Thomas, J. M.; Jones, R. H.; Chippindale, A. M. J. Chem. Soc. Chem. Commun. 1992,875
3. Yan, W.; Yu, J.; Xu, R.; Zhu, G.; Xiao, F.; Han, Y.; Sugiyama, K.; Terasaki, O. Chem. Mater. 2000, 12, 2517
4. Lii, K. -H.; Huang, Y. -F. Inorg. Chem. 1999, 38, 1348.
5. Lii, K. -H.; Huang, C. -H.; Huang, L. -H. Inorg. Chem. 2001, 40, 2625.
6. Lin, H. -M.; Lii, K. -H.; Jiang, Y. -C.; Wang, S.-L. Chem. Mater. 1999, 11, 519.
7. Lii, K. -H.; Huang, Y. -F. J. Chem. Soc., Dalton Trans. 1998, 4085.
8. Lii, K. -H.; Chang, W. -J.; Lin, H. -M.; J. Solid State Chem. 2001,157, 233
9.許樹恩，吳泰伯；X-光繞射原理與材料結構解析；國科會精儀中心，民國八十二年六月。
10.Ladd, M. F.; Palmer, R. A. Structure Determination by X-ray Crystallography, Plenum, New York, 1994.
11.I. D. Brown, Altermatt, D. Acta Cryst. 1985, B41, 244.
12. Shannon, R. D. Acta. Cryst. 1976, A32, 751.
13.Wilson, S. T.; Lok, B. M.; Messina, C. A.; Cannan, T. R.; Flanifen, E. M. J. Am. Chem. Soc. 1982, 104, 1146.
14.Davis, M. E.; Saldarriaga, C.; Garces, J. M.; Crowder, C.; Nature, 1988, 331, 698
15.Parise, J. B. J. Chem. Soc. Chem. Commun., 1985, 606.
16.Estermann, M.; McCusker, L. B.; Baerlocher, C.; Merrouche, A.; Kessler, H. Nature, 1991, 352, 320.
17.Chen, C. -Y.; Chu, P. P.; Lii, K. -H. J. Chem. Soc. Commun. 1999, 1473.
18.Lin, H. -M.; Lii, K. -H. Inorg. Chem. 1988, 37, 4220.
19.Chen, C. -Y.; Lii, K. -H. Inorg. Chem. 2000, 39, 3374.
20.Lin, C. -H.; Wang, S. –L.; Lii, K. –H. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 4649.
21.Sheldric, G. M. SHELXTL-Plus Crystallographic System, 1991, release 4.21, Siemens Analytical X-ray Instrument, Madison, WI.
22.Sheldric, G. M. SAINT, 1995, Siemens Analytical X-ray Instrument, Madison, WI.
23.Blessing, R.H. Acta Crystallogr. 1995, A51, 33.
24.Cromer D. T.; Weber J. T. International Tables for X-Ray Crystallography; Kynoch Press: Birmingham, England, 1974, Vol. IV, Chapter 2.
25.Chippindale, A. M.; Walton, R. I.; Tuner, C. J. Chem. Soc. Commun. 1995,1261